Sortiment bogat de produse & inovație
Producție și dezvoltare de produse proprii
Service & suport personal
Microscoape > Accesorii microscopie > Aparate foto > Calibrare > ToupTek Objektmikrometer, Raster (X&Y) 1mm/100 Div.x0.01mm
Nr. articol: 77085

Objektmikrometer, Raster (X&Y) 1mm/100 Div.x0.01mm

$ 26,64 incl. TVA, plus costuri de livrare
termen scurt
gata de livrare in 3-5 saptamani + timp de tranzit

Descriere produs

Date tehnice

Extras


Scala micrometrica
da

Alte produse


numar produs
TS-M2
ToupTek Objektmikrometer, Raster (X&Y) 1mm/100 Div.x0.01mm

Comentarii

Nu exista comentarii ale clientilor pentru acest produs inca.

Scrieti comentariul dumneavoastra propriu:

Aveți întrebări specifice cu privire la comandă sau la produse? Vă rugăm să contactați serviciul nostru pentru clienți!