Shop Revistă
%SALE%
RO / $
✓ Marca dvs. pentru astronomie & natură
✓ Sortiment bogat de produse & inovație
✓ Producție și dezvoltare de produse proprii
Telescoape Accesorii telescop Universe2Go Astro T-Shirts Binocluri Instrumente terestre Stative foto Microscoape % SALE %
Microscoape > Accesorii microscopie > Aparate foto > Calibrare > ToupTek Objektmikrometer, Raster (X&Y) 1mm/100 Div.x0.01mm
Nr. articol: 77085

Objektmikrometer, Raster (X&Y) 1mm/100 Div.x0.01mm

$ 28,24 incl. TVA plus costuri de livrare
in stoc
gata de livrare in 24 h + timp de tranzit
Livrare Express posibila pana maine, 10.05.2025!
intrebari legate de produs?
sfaturi pentru Microscoape

Descriere produs

Date tehnice

Extras

Scala micrometrica
da

Alte produse

numar produs
TS-M2

Siguranța produselor

Producător: Hangzhou ToupTek Photonics Co., Ltd., 15F, Aoqiang Building 1, No. 6, Xiyuan 5th Rd., Hangzhou, 310030 Zhejiang, CN, www.touptek.com
Persoana responsabilă: NIMAX GmbH, Otto-Lilienthal-Str. 9, 86899 Landsberg am Lech, DE, [email protected]
Siguranța produselor
ToupTek Objektmikrometer, Raster (X&Y) 1mm/100 Div.x0.01mm

Comentarii

Nu exista comentarii ale clientilor pentru acest produs inca.

Compose your own review

Aveți întrebări specifice cu privire la comandă sau la produse? Vă rugăm să contactați serviciul nostru pentru clienți!

Adaugati comentariul dumneavoastra acum.