Uitgebreid en innovatief assortiment
Eigen ontwikkeling en fabricage
Persoonlijke service en ondersteuning
Microscopie > Microscopie toebehoren > Camera's > Calibratie > ToupTek Objektmikrometer, Raster (X&Y) 1mm/100 Div.x0.01mm
Artikelnummer: 77085

Objektmikrometer, Raster (X&Y) 1mm/100 Div.x0.01mm

$ 27,35 incl.btw, + verzendkosten
in voorraad
Klaar voor verzending in 24 u + verzendtijd

Productomschrijving

Specificaties

Bijzonderheden


Micrometer schaal
ja

Diversen


Leverancier Productnummer
TS-M2
ToupTek Objektmikrometer, Raster (X&Y) 1mm/100 Div.x0.01mm

Klantbeoordelingen

Er zijn nog geen beoordelingen voor dit product.

Stel uw eigen beoordeling samen:

Heeft u specifieke vragen over uw bestelling of producten? Neem dan contact op met onze klantenservice!