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Microscopi > Accessori Microscopia > Fotocamere > Calibratura > ToupTek Objektmikrometer, Raster (X&Y) 1mm/100 Div.x0.01mm
Prodotto n.: 77085

Objektmikrometer, Raster (X&Y) 1mm/100 Div.x0.01mm

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a breve termine
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Descrizione prodotto

Specifiche

Particolarità


Scala micrometrica
si

Varie


Codice prodotto del fornitore
TS-M2
ToupTek Objektmikrometer, Raster (X&Y) 1mm/100 Div.x0.01mm

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