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Microscopi > Accessori Microscopia > Fotocamere > Calibratura > ToupTek Objektmikrometer, Raster (X&Y) 1mm/100 Div.x0.01mm
Prodotto n.: 77085

Objektmikrometer, Raster (X&Y) 1mm/100 Div.x0.01mm

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in magazzino
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Descrizione prodotto

Specifiche

Particolarità

Scala micrometrica
si

Varie

Codice prodotto del fornitore
TS-M2

Sicurezza del prodotto

Produttore: Hangzhou ToupTek Photonics Co., Ltd., 15F, Aoqiang Building 1, No. 6, Xiyuan 5th Rd., Hangzhou, 310030 Zhejiang, CN, www.touptek.com
Persona responsabile: NIMAX GmbH, Otto-Lilienthal-Str. 9, 86899 Landsberg am Lech, DE, [email protected]
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ToupTek Objektmikrometer, Raster (X&Y) 1mm/100 Div.x0.01mm

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