Innovazione e varietà di prodotti
Progettazione e produzione propria
Assistenza personalizzata
Microscopi > Accessori Microscopia > Fotocamere > Calibratura > ToupTek Objektmikrometer, Raster (X&Y) 1mm/100 Div.x0.01mm
Prodotto n.: 77085

Objektmikrometer, Raster (X&Y) 1mm/100 Div.x0.01mm

$ 26,64 IVA incl., più spese di spedizione
a breve termine
spedibile in 3-5 settimane + Tempo di trasporto

Descrizione prodotto

Specifiche

Particolarità


Scala micrometrica
si

Varie


Codice prodotto del fornitore
TS-M2
ToupTek Objektmikrometer, Raster (X&Y) 1mm/100 Div.x0.01mm

Recensioni clienti

Non ci sono ancora recensioni per questo prodotto.

Scrivi la tua recensione:

Avete domande specifiche sul vostro ordine o sui prodotti? Contattate il nostro servizio clienti!