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Microscopie > Accessoires de microscopie > Appareils de prise de vue > Calibrage > ToupTek Objektmikrometer, Raster (X&Y) 1mm/100 Div.x0.01mm
N° d'article : 77085

Objektmikrometer, Raster (X&Y) 1mm/100 Div.x0.01mm

26,72 $ TVA incluse, plus frais d'expédition
à court terme
expédié sous 3-5 semaines + durée de transport

Description du produit

Spécifications

Particularités


Echelle de micromètres
oui

Divers


Référence fournisseur
TS-M2
ToupTek Objektmikrometer, Raster (X&Y) 1mm/100 Div.x0.01mm

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